Muutke küpsiste eelistusi

21st IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in Vlsi Systems [Pehme köide]

Other
  • Formaat: Paperback, 600 pages, illustrations
  • Sari: IEEE Conference Proceedings
  • Ilmumisaeg: 31-Jan-2006
  • Kirjastus: IEEE Computer Society Press,U.S.
  • ISBN-10: 076952706X
  • ISBN-13: 9780769527062
Teised raamatud teemal:
  • Pehme köide
  • Raamatu hind pole hetkel teada
  • See raamat on trükist otsas, kuid me saadame teile pakkumise kasutatud raamatule.
  • Lisa soovinimekirja
21st IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in Vlsi Systems
  • Formaat: Paperback, 600 pages, illustrations
  • Sari: IEEE Conference Proceedings
  • Ilmumisaeg: 31-Jan-2006
  • Kirjastus: IEEE Computer Society Press,U.S.
  • ISBN-10: 076952706X
  • ISBN-13: 9780769527062
Teised raamatud teemal:
Püsilink: https://www.kriso.ee/db/9780769527062.html
Märksõnad: