Muutke küpsiste eelistusi

6th International Symposium on Plasma and Process-induced Damage 2001 [Pehme köide]

  • Formaat: Paperback / softback, 138 pages, kõrgus: 230 mm
  • Sari: IEEE Conference Proceedings
  • Ilmumisaeg: 01-Jan-2001
  • Kirjastus: I.E.E.E.Press
  • ISBN-10: 096515775X
  • ISBN-13: 9780965157759
Teised raamatud teemal:
6th International Symposium on Plasma and Process-induced Damage 2001Suurem pilt
  • Formaat: Paperback / softback, 138 pages, kõrgus: 230 mm
  • Sari: IEEE Conference Proceedings
  • Ilmumisaeg: 01-Jan-2001
  • Kirjastus: I.E.E.E.Press
  • ISBN-10: 096515775X
  • ISBN-13: 9780965157759
Teised raamatud teemal:
Püsilink: https://www.kriso.ee/db/9780965157759.html
This work covers topics such as: damage measurement; plasma characterization and damage mitigation; non-volatile memories; ultra-thin dielectrics; contamination; and multi-terminal effects.