Klienditugi: 7440010 (E-R 10-18)

Abi | Registreeri | Logi sisse

EST

Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics III: 1-2 August 2010, San Diego, California, United States [Pehme köide]

Lahsen Assoufid

Formaat: Paperback / softback, 150 pages, kõrgus x laius: 229x152 mm, illustrations
Ilmumisaeg: 01-Jan-2010
Kirjastus: SPIE Press
ISBN-10: 0819482978
ISBN-13: 9780819482976

Teised raamatud teemal:

Industrial chemistry & manufacturing technologies - (Hetkel poes: 7 nimetust)

Pehme köide
Hind: 106,75 €
Raamatu kohalejõudmiseks kirjastusest kulub orienteeruvalt 2-4 nädalat
Kogus:
- - 1
  - 2
  - 3
  - 4
  - 5
  - 6
  - 7
  - 8
  - 9
  - 10
Lisa ostukorvi
Tasuta tarne
Tellimisaeg 2-4 nädalat
Lisa soovinimekirja

Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics III: 1-2 August 2010, San Diego, California, United States

Formaat: Paperback / softback, 150 pages, kõrgus x laius: 229x152 mm, illustrations
Ilmumisaeg: 01-Jan-2010
Kirjastus: SPIE Press
ISBN-10: 0819482978
ISBN-13: 9780819482976

Teised raamatud teemal:

Industrial chemistry & manufacturing technologies - (Hetkel poes: 7 nimetust)

Püsilink: https://www.kriso.ee/db/9780819482976.html

Märksõnad:

Arvustused Goodreads'ist