Klienditugi: 7440010 (E-R 10-18)

Abi | Registreeri | Logi sisse

EST

Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics: 12 August 2012, San Diego, California, United States, Volume IV [Pehme köide]

Lahsen Assoufid

Formaat: Paperback / softback, kõrgus x laius: 229x152 mm, illustrations
Ilmumisaeg: 15-Nov-2012
Kirjastus: SPIE Press
ISBN-10: 0819492183
ISBN-13: 9780819492180

Teised raamatud teemal:

Applied optics

Pehme köide
Hind: 91,90 €
Raamatu kohalejõudmiseks kirjastusest kulub orienteeruvalt 2-4 nädalat
Kogus:
- - 1
  - 2
  - 3
  - 4
  - 5
  - 6
  - 7
  - 8
  - 9
  - 10
Lisa ostukorvi
Tasuta tarne
Tellimisaeg 2-4 nädalat
Lisa soovinimekirja

Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics: 12 August 2012, San Diego, California, United States, Volume IV

Formaat: Paperback / softback, kõrgus x laius: 229x152 mm, illustrations
Ilmumisaeg: 15-Nov-2012
Kirjastus: SPIE Press
ISBN-10: 0819492183
ISBN-13: 9780819492180

Teised raamatud teemal:

Applied optics

Püsilink: https://www.kriso.ee/db/9780819492180.html

Märksõnad:

Arvustused Goodreads'ist