Muutke küpsiste eelistusi

Asian Test Symposium Proceedings, 2nd [Pehme köide]

  • Formaat: Paperback / softback, 274 pages, kõrgus x laius x paksus: 273x216x19 mm, kaal: 816 g
  • Ilmumisaeg: 01-Dec-1993
  • Kirjastus: IEEE Computer Society Press,U.S.
  • ISBN-10: 081863930X
  • ISBN-13: 9780818639302
Teised raamatud teemal:
Asian Test Symposium Proceedings, 2nd
  • Formaat: Paperback / softback, 274 pages, kõrgus x laius x paksus: 273x216x19 mm, kaal: 816 g
  • Ilmumisaeg: 01-Dec-1993
  • Kirjastus: IEEE Computer Society Press,U.S.
  • ISBN-10: 081863930X
  • ISBN-13: 9780818639302
Teised raamatud teemal:
Püsilink: https://www.kriso.ee/db/9780818639302.html
Märksõnad:
Proceedings of the 2nd Asian Test Symposium held in Beijing, China, in November 1993. Among the topics: fault tolerance, analog and mixed circuit testing, and testability analysis. No index. Annotation copyright Book News, Inc. Portland, Or.