Klienditugi: 7440010 (E-R 10-18)

Abi | Registreeri | Logi sisse

EST

Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, International Workshop [Pehme köide]

Institute of Electrical and Electronics Engineers

Formaat: Paperback / softback, 586 pages, kõrgus: 270 mm
Ilmumisaeg: 01-Dec-1993
Kirjastus: IEEE Publications,U.S.
ISBN-10: 0818635029
ISBN-13: 9780818635021

Teised raamatud teemal:

Electronics & communications engineering - (Hetkel poes: 1 nimetust)
Computer science - (Hetkel poes: 7 nimetust)

Pehme köide
Hind: 92,58 €
Raamatu kohalejõudmiseks kirjastusest kulub orienteeruvalt 2-4 nädalat
Kogus:
- - 1
  - 2
  - 3
  - 4
  - 5
  - 6
  - 7
  - 8
  - 9
  - 10
Lisa ostukorvi
Tasuta tarne
Tellimisaeg 2-4 nädalat
Lisa soovinimekirja

Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, International Workshop

Formaat: Paperback / softback, 586 pages, kõrgus: 270 mm
Ilmumisaeg: 01-Dec-1993
Kirjastus: IEEE Publications,U.S.
ISBN-10: 0818635029
ISBN-13: 9780818635021

Teised raamatud teemal:

Electronics & communications engineering - (Hetkel poes: 1 nimetust)
Computer science - (Hetkel poes: 7 nimetust)

Püsilink: https://www.kriso.ee/db/9780818635021.html

Märksõnad:

Arvustused Goodreads'ist