Klienditugi: 7440010 (E-R 10-18)

Abi | Registreeri | Logi sisse

EST

Detection of Defects in Glass [Pehme köide]

Gupta Nishu, Agrawal Sunil

Formaat: Paperback / softback, 100 pages, kõrgus x laius x paksus: 229x152x6 mm, kaal: 160 g
Ilmumisaeg: 28-Oct-2012
Kirjastus: LAP Lambert Academic Publishing
ISBN-10: 3659250503
ISBN-13: 9783659250507

Teised raamatud teemal:

Information technology: general issues - (Hetkel poes: 1 nimetust)

Pehme köide
Hind: 57,70 €
Raamatu kohalejõudmiseks kirjastusest kulub orienteeruvalt 2-4 nädalat
Kogus:
- - 1
  - 2
  - 3
  - 4
  - 5
  - 6
  - 7
  - 8
  - 9
  - 10
Lisa ostukorvi
Tasuta tarne
Tellimisaeg 2-4 nädalat
Lisa soovinimekirja

Formaat: Paperback / softback, 100 pages, kõrgus x laius x paksus: 229x152x6 mm, kaal: 160 g
Ilmumisaeg: 28-Oct-2012
Kirjastus: LAP Lambert Academic Publishing
ISBN-10: 3659250503
ISBN-13: 9783659250507

Teised raamatud teemal:

Information technology: general issues - (Hetkel poes: 1 nimetust)

Püsilink: https://www.kriso.ee/db/9783659250507.html

Arvustused Goodreads'ist