Tasuta saatmine! | Klienditugi: 7440010 (E-R 10-18)

Abi | Registreeri | Logi sisse

EST

Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials [Pehme köide]

Formaat: Paperback / softback, 174 pages, kõrgus x laius: 210x148 mm, 60
Sari: Reports on Measurement and Sensor Systems
Ilmumisaeg: 28-Mar-2022
Kirjastus: Shaker Verlag GmbH, Germany
ISBN-10: 3844085173
ISBN-13: 9783844085174

Teised raamatud teemal:

Engineering measurement & calibration

Pehme köide
Hind: 55,99 €
Raamatu kohalejõudmiseks kirjastusest kulub orienteeruvalt 3-4 nädalat
Kogus:
- - 1
  - 2
  - 3
  - 4
  - 5
  - 6
  - 7
  - 8
  - 9
  - 10
Lisa ostukorvi
Tasuta tarne
Tellimisaeg 2-4 nädalat
Lisa soovinimekirja

Formaat: Paperback / softback, 174 pages, kõrgus x laius: 210x148 mm, 60
Sari: Reports on Measurement and Sensor Systems
Ilmumisaeg: 28-Mar-2022
Kirjastus: Shaker Verlag GmbH, Germany
ISBN-10: 3844085173
ISBN-13: 9783844085174

Teised raamatud teemal:

Engineering measurement & calibration

Püsilink: https://www.kriso.ee/db/9783844085174.html

Reports on hyperspectral imaging microscopy techniques for atomic layer mapping of two-dimensional materials