Klienditugi: 7440010 (E-R 10-18)

Abi | Registreeri | Logi sisse

EST

Manufacturing Yield Evaluation of VLSI/WSI Systems [Pehme köide]

Edited by Bruno Ciciani

Formaat: Paperback / softback, 524 pages, kõrgus: 260 mm
Ilmumisaeg: 01-May-1995
Kirjastus: IEEE Computer Society Press,U.S.
ISBN-10: 0818662921
ISBN-13: 9780818662928

Teised raamatud teemal:

Circuits & components - (Hetkel poes: 1 nimetust)
Computer architecture & logic design

Pehme köide
Hind: 73,22 €*
* saadame teile pakkumise kasutatud raamatule, mille hind võib erineda kodulehel olevast hinnast
See raamat on trükist otsas, kuid me saadame teile pakkumise kasutatud raamatule.
Kogus:
- - 1
  - 2
  - 3
  - 4
  - 5
  - 6
  - 7
  - 8
  - 9
  - 10
Lisa ostukorvi
Tasuta tarne
Lisa soovinimekirja

Manufacturing Yield Evaluation of VLSI/WSI Systems

Formaat: Paperback / softback, 524 pages, kõrgus: 260 mm
Ilmumisaeg: 01-May-1995
Kirjastus: IEEE Computer Society Press,U.S.
ISBN-10: 0818662921
ISBN-13: 9780818662928

Teised raamatud teemal:

Circuits & components - (Hetkel poes: 1 nimetust)
Computer architecture & logic design

Püsilink: https://www.kriso.ee/db/9780818662928.html

Märksõnad:

Arvustused Goodreads'ist