Klienditugi: 7440010 (E-R 10-18)

Abi | Registreeri | Logi sisse

EST

Microsystems Engineering: Metrology and Inspection [Pehme köide]

Werner Jueptner, Malgorzata Kujawinska, Christophe Gorecki

Formaat: Paperback / softback, 182 pages
Sari: Proceedings of SPIE v. 4400
Ilmumisaeg: 01-Oct-2001
Kirjastus: SPIE Press
ISBN-10: 0819440957
ISBN-13: 9780819440952

Teised raamatud teemal:

Applied optics

Pehme köide
Hind: 136,38 €
Raamatu kohalejõudmiseks kirjastusest kulub orienteeruvalt 2-4 nädalat
Kogus:
- - 1
  - 2
  - 3
  - 4
  - 5
  - 6
  - 7
  - 8
  - 9
  - 10
Lisa ostukorvi
Tasuta tarne
Tellimisaeg 2-4 nädalat
Lisa soovinimekirja

Microsystems Engineering: Metrology and Inspection

Formaat: Paperback / softback, 182 pages
Sari: Proceedings of SPIE v. 4400
Ilmumisaeg: 01-Oct-2001
Kirjastus: SPIE Press
ISBN-10: 0819440957
ISBN-13: 9780819440952

Teised raamatud teemal:

Applied optics

Püsilink: https://www.kriso.ee/db/9780819440952.html

Märksõnad:

Arvustused Goodreads'ist