Muutke küpsiste eelistusi

Reduction of Jfet Parameter Drift in IC Operational Amplifiers Using Statistical Process Characterization [Pehme köide]

,
  • Formaat: Paperback / softback, 24 pages, kõrgus: 240 mm, illustrations
  • Sari: The Six Sigma Research Institute Series
  • Ilmumisaeg: 28-Feb-1993
  • Kirjastus: Pearson Education Australia
  • ISBN-10: 0201634295
  • ISBN-13: 9780201634297
Teised raamatud teemal:
  • Pehme köide
  • Hind: 26,00 €*
  • * saadame teile pakkumise kasutatud raamatule, mille hind võib erineda kodulehel olevast hinnast
  • See raamat on trükist otsas, kuid me saadame teile pakkumise kasutatud raamatule.
  • Kogus:
  • Lisa ostukorvi
  • Tasuta tarne
  • Lisa soovinimekirja
Reduction of Jfet Parameter Drift in IC Operational Amplifiers Using Statistical Process Characterization
  • Formaat: Paperback / softback, 24 pages, kõrgus: 240 mm, illustrations
  • Sari: The Six Sigma Research Institute Series
  • Ilmumisaeg: 28-Feb-1993
  • Kirjastus: Pearson Education Australia
  • ISBN-10: 0201634295
  • ISBN-13: 9780201634297
Teised raamatud teemal:
Püsilink: https://www.kriso.ee/db/9780201634297.html
Märksõnad: