Klienditugi: 7440010 (E-R 10-18)

Abi | Registreeri | Logi sisse

EST

Reliability and Degradation: Semiconductor Devices and Circuits [Kõva köide]

David Vernon Morgan, M. J. Howes

Formaat: Hardback, 456 pages, kõrgus x laius: 240x160 mm, kaal: 750 g, illustrations, index
Sari: Wiley Series in Solid State Devices & Circuits
Ilmumisaeg: 25-Nov-1981
Kirjastus: John Wiley & Sons Ltd
ISBN-10: 0471280283
ISBN-13: 9780471280286

Teised raamatud teemal:

Technology: general issues - (Hetkel poes: 4 nimetust)

Kõva köide
Hind: 66,03 €*
* saadame teile pakkumise kasutatud raamatule, mille hind võib erineda kodulehel olevast hinnast
See raamat on trükist otsas, kuid me saadame teile pakkumise kasutatud raamatule.
Kogus:
- - 1
  - 2
  - 3
  - 4
  - 5
  - 6
  - 7
  - 8
  - 9
  - 10
Lisa ostukorvi
Tasuta tarne
Lisa soovinimekirja

Reliability and Degradation: Semiconductor Devices and Circuits

Formaat: Hardback, 456 pages, kõrgus x laius: 240x160 mm, kaal: 750 g, illustrations, index
Sari: Wiley Series in Solid State Devices & Circuits
Ilmumisaeg: 25-Nov-1981
Kirjastus: John Wiley & Sons Ltd
ISBN-10: 0471280283
ISBN-13: 9780471280286

Teised raamatud teemal:

Technology: general issues - (Hetkel poes: 4 nimetust)

Püsilink: https://www.kriso.ee/db/9780471280286.html

Märksõnad:

Semiconductors - Defects

Arvustused Goodreads'ist