Muutke küpsiste eelistusi

Scanning Microscopie: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences 2013 [Pehme köide]

Edited by , Edited by , Edited by , Edited by
  • Formaat: Paperback / softback, 277 pages, Illustrations
  • Sari: Proceedings of SPIE No. 8729
  • Ilmumisaeg: 30-Jul-2013
  • Kirjastus: SPIE Press
  • ISBN-10: 0819495204
  • ISBN-13: 9780819495204
Teised raamatud teemal:
  • Pehme köide
  • Hind: 113,95 €*
  • * saadame teile pakkumise kasutatud raamatule, mille hind võib erineda kodulehel olevast hinnast
  • See raamat on trükist otsas, kuid me saadame teile pakkumise kasutatud raamatule.
  • Kogus:
  • Lisa ostukorvi
  • Tasuta tarne
  • Lisa soovinimekirja
Scanning Microscopie: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences 2013
  • Formaat: Paperback / softback, 277 pages, Illustrations
  • Sari: Proceedings of SPIE No. 8729
  • Ilmumisaeg: 30-Jul-2013
  • Kirjastus: SPIE Press
  • ISBN-10: 0819495204
  • ISBN-13: 9780819495204
Teised raamatud teemal:
Püsilink: https://www.kriso.ee/db/9780819495204.html
Märksõnad:
Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.
Ei ole sisse logitud.