Muutke küpsiste eelistusi

In Situ Transmission Infrared Spectroscopy of High-Kappa Oxide Atomic Layer Deposition Onto Silicon Surfaces [Pehme köide]

  • Formaat: Paperback / softback, 192 pages, kõrgus x laius x paksus: 246x189x10 mm, kaal: 354 g, black & white illustrations
  • Ilmumisaeg: 01-Sep-2011
  • Kirjastus: Proquest, Umi Dissertation Publishing
  • ISBN-10: 1243580585
  • ISBN-13: 9781243580580
Teised raamatud teemal:
In Situ Transmission Infrared Spectroscopy of High-Kappa Oxide Atomic Layer Deposition Onto Silicon Surfaces
  • Formaat: Paperback / softback, 192 pages, kõrgus x laius x paksus: 246x189x10 mm, kaal: 354 g, black & white illustrations
  • Ilmumisaeg: 01-Sep-2011
  • Kirjastus: Proquest, Umi Dissertation Publishing
  • ISBN-10: 1243580585
  • ISBN-13: 9781243580580
Teised raamatud teemal:
Püsilink: https://www.kriso.ee/db/9781243580580.html