Klienditugi: 7440010 (E-R 10-18)

Abi | Registreeri | Logi sisse

EST

Trace and Log Analysis: A Pattern Reference for Diagnostics and Anomaly Detection, Third Edition 3rd ed. [Pehme köide]

Dmitry Vostokov, Software Diagnostics Institute

Formaat: Paperback / softback, 308 pages, kõrgus x laius x paksus: 216x140x20 mm, kaal: 494 g, 204 Illustrations
Ilmumisaeg: 06-Aug-2019
Kirjastus: Opentask
ISBN-10: 1912636042
ISBN-13: 9781912636044

Teised raamatud teemal:

Program concepts / learning to program
Software testing & verification
Data mining - (Hetkel poes: 1 nimetust)
Information visualization
Systems analysis & design
Network security
Computer security - (Hetkel poes: 4 nimetust)
Software Engineering
Operating systems - (Hetkel poes: 1 nimetust)

Pehme köide
Hind: 68,20 €
Raamatu kohalejõudmiseks kirjastusest kulub orienteeruvalt 2-4 nädalat
Kogus:
- - 1
  - 2
  - 3
  - 4
  - 5
  - 6
  - 7
  - 8
  - 9
  - 10
Lisa ostukorvi
Tasuta tarne
Tellimisaeg 2-4 nädalat
Lisa soovinimekirja

Formaat: Paperback / softback, 308 pages, kõrgus x laius x paksus: 216x140x20 mm, kaal: 494 g, 204 Illustrations
Ilmumisaeg: 06-Aug-2019
Kirjastus: Opentask
ISBN-10: 1912636042
ISBN-13: 9781912636044

Teised raamatud teemal:

Program concepts / learning to program
Software testing & verification
Data mining - (Hetkel poes: 1 nimetust)
Information visualization
Systems analysis & design
Network security
Computer security - (Hetkel poes: 4 nimetust)
Software Engineering
Operating systems - (Hetkel poes: 1 nimetust)

Püsilink: https://www.kriso.ee/db/9781912636044.html

Arvustused Goodreads'ist