Klienditugi: 7440010 (E-R 10-18)

Abi | Registreeri | Logi sisse

EST

Thin-Film and Depth-Profile Analysis [Kõva köide]

Other H Oechsner

Formaat: Hardback, 205 pages, Illustrations
Sari: Springer Series in Optical Sciences 37
Ilmumisaeg: 01-Dec-1984
Kirjastus: Springer
ISBN-10: 0387133208
ISBN-13: 9780387133201

Teised raamatud teemal:

Condensed matter physics (liquid state & solid state physics) - (Hetkel poes: 1 nimetust)

Kõva köide
Hind: 86,25 €*
* saadame teile pakkumise kasutatud raamatule, mille hind võib erineda kodulehel olevast hinnast
See raamat on trükist otsas, kuid me saadame teile pakkumise kasutatud raamatule.
Kogus:
- - 1
  - 2
  - 3
  - 4
  - 5
  - 6
  - 7
  - 8
  - 9
  - 10
Lisa ostukorvi
Tasuta tarne
Lisa soovinimekirja

Formaat: Hardback, 205 pages, Illustrations
Sari: Springer Series in Optical Sciences 37
Ilmumisaeg: 01-Dec-1984
Kirjastus: Springer
ISBN-10: 0387133208
ISBN-13: 9780387133201

Teised raamatud teemal:

Condensed matter physics (liquid state & solid state physics) - (Hetkel poes: 1 nimetust)

Püsilink: https://www.kriso.ee/db/9780387133201.html

Märksõnad:

Arvustused Goodreads'ist