Muutke küpsiste eelistusi

E-raamat: Fiber Bundles: Statistical Models and Applications

, , , ,
  • Formaat: EPUB+DRM
  • Ilmumisaeg: 15-Mar-2023
  • Kirjastus: Springer International Publishing AG
  • Keel: eng
  • ISBN-13: 9783031147975
Teised raamatud teemal:
  • Formaat - EPUB+DRM
  • Hind: 122,88 €*
  • * hind on lõplik, st. muud allahindlused enam ei rakendu
  • Lisa ostukorvi
  • Lisa soovinimekirja
  • See e-raamat on mõeldud ainult isiklikuks kasutamiseks. E-raamatuid ei saa tagastada.
Fiber Bundles: Statistical Models and ApplicationsSuurem pilt
  • Formaat: EPUB+DRM
  • Ilmumisaeg: 15-Mar-2023
  • Kirjastus: Springer International Publishing AG
  • Keel: eng
  • ISBN-13: 9783031147975
Teised raamatud teemal:

DRM piirangud

  • Kopeerimine (copy/paste):

    ei ole lubatud

  • Printimine:

    ei ole lubatud

  • Kasutamine:

    Digitaalõiguste kaitse (DRM)
    Kirjastus on väljastanud selle e-raamatu krüpteeritud kujul, mis tähendab, et selle lugemiseks peate installeerima spetsiaalse tarkvara. Samuti peate looma endale  Adobe ID Rohkem infot siin. E-raamatut saab lugeda 1 kasutaja ning alla laadida kuni 6'de seadmesse (kõik autoriseeritud sama Adobe ID-ga).

    Vajalik tarkvara
    Mobiilsetes seadmetes (telefon või tahvelarvuti) lugemiseks peate installeerima selle tasuta rakenduse: PocketBook Reader (iOS / Android)

    PC või Mac seadmes lugemiseks peate installima Adobe Digital Editionsi (Seeon tasuta rakendus spetsiaalselt e-raamatute lugemiseks. Seda ei tohi segamini ajada Adober Reader'iga, mis tõenäoliselt on juba teie arvutisse installeeritud )

    Seda e-raamatut ei saa lugeda Amazon Kindle's. 

This book presents a critical overview of statistical fiber bundle models, including existing models and potential new ones. The authors focus on both the physical and statistical aspects of a specific load-sharing example: the breakdown for circuits of capacitors and related dielectrics. In addition, they investigate some areas of open research.

This book is designed for graduate students and researchers in statistics, materials science, engineering, physics, and related fields, as well as practitioners and technicians in materials science and mechanical engineering.

1. Introduction and Preliminaries.-
2. Electrical Circuits of Ordinary Capacitors.-
3. Breakdown of Thin-Film Dielectrics.-
4. Cell Models for Dielectrics.-
5. Electrical Breakdown and the Breakdown Formalism.-
6. Statistical Properties of a Load-Sharing Bundle.-
7. Statistical Analysis of Kim and Lee (2004)'s Data.-
8. Circuits of Ordinary Capacitors.-
9. Size Effects Relationships Motivated by the Load-Sharing Cell Model.-
10. Concluding Comments and Future Research Directions.
James U. Gleaton is Professor Emeritus in the Department of Mathematics and Statistics at the University of North Florida.

David Han is Associate Professor of Management Science and Statistics at the University of Texas at San Antonio.

James D. Lynch is Distinguished Professor Emeritus in the Department of Statistics at the University of South Carolina.

Hon Keung Tony Ng is Professor in the Department of Mathematical Sciences at Bentley University.

Fabrizio Ruggeri is Research Director at the Italian National Research Council in Milan.
Lisainfo e-raamatute kohta Lisainfo e-raamatute kohta
Püsilink: https://www.kriso.ee/db/97830311479756e.html
Märksõnad: