Muutke küpsiste eelistusi

E-raamat: Friction Stir Welding and Processing XIII

Edited by , Edited by , Edited by , Edited by , Edited by
  • Formaat - PDF+DRM
  • Hind: 246,38 €*
  • * hind on lõplik, st. muud allahindlused enam ei rakendu
  • Lisa ostukorvi
  • Lisa soovinimekirja
  • See e-raamat on mõeldud ainult isiklikuks kasutamiseks. E-raamatuid ei saa tagastada.

DRM piirangud

  • Kopeerimine (copy/paste):

    ei ole lubatud

  • Printimine:

    ei ole lubatud

  • Kasutamine:

    Digitaalõiguste kaitse (DRM)
    Kirjastus on väljastanud selle e-raamatu krüpteeritud kujul, mis tähendab, et selle lugemiseks peate installeerima spetsiaalse tarkvara. Samuti peate looma endale  Adobe ID Rohkem infot siin. E-raamatut saab lugeda 1 kasutaja ning alla laadida kuni 6'de seadmesse (kõik autoriseeritud sama Adobe ID-ga).

    Vajalik tarkvara
    Mobiilsetes seadmetes (telefon või tahvelarvuti) lugemiseks peate installeerima selle tasuta rakenduse: PocketBook Reader (iOS / Android)

    PC või Mac seadmes lugemiseks peate installima Adobe Digital Editionsi (Seeon tasuta rakendus spetsiaalselt e-raamatute lugemiseks. Seda ei tohi segamini ajada Adober Reader'iga, mis tõenäoliselt on juba teie arvutisse installeeritud )

    Seda e-raamatut ei saa lugeda Amazon Kindle's. 

This volume presents fundamentals and the current status of friction stir welding (FSW) and solid-state friction stir processing of materials and provides researchers and engineers with an opportunity to review the current status of the friction stir related processes and discuss the future possibilities. Contributions cover various aspects of friction stir welding and processing including their derivative technologies. Topics include but are not limited to:

  • Additive friction stir technologies
  • Friction stir extrusion technologies
  • High temperature applications
  • Industrial applications
  • Friction stir spot technologies
  • Dissimilar alloys and materials
  • Lightweight alloys
  • Simulation, characterization, and non-destructive examination techniques
Yuri Hovanski, Brigham Young University, Provo, UT, USA;





Yutaka Sato, Tohoku University, Sendai, Japan;





Piyush Upadhyay, Pacific Northwest National Laboratory, Richland, WA, USA;





Nilesh Kumar, The University of Alabama, Tuscaloosa, AL, USA;





Anton A. Naumov, Peter the Great St. Petersburg Polytechnic University, Saint Petersburg, Russia