Muutke küpsiste eelistusi

E-raamat: Introduction to Scanning Transmission Electron Microscopy

, , ,
  • Formaat: 128 pages
  • Ilmumisaeg: 19-Dec-2018
  • Kirjastus: Bios Scientific Publishers Ltd
  • Keel: eng
  • ISBN-13: 9781351436601
Teised raamatud teemal:
  • Formaat - EPUB+DRM
  • Hind: 100,09 €*
  • * hind on lõplik, st. muud allahindlused enam ei rakendu
  • Lisa ostukorvi
  • Lisa soovinimekirja
  • See e-raamat on mõeldud ainult isiklikuks kasutamiseks. E-raamatuid ei saa tagastada.
Introduction to Scanning Transmission Electron MicroscopySuurem pilt
  • Formaat: 128 pages
  • Ilmumisaeg: 19-Dec-2018
  • Kirjastus: Bios Scientific Publishers Ltd
  • Keel: eng
  • ISBN-13: 9781351436601
Teised raamatud teemal:

DRM piirangud

  • Kopeerimine (copy/paste):

    ei ole lubatud

  • Printimine:

    ei ole lubatud

  • Kasutamine:

    Digitaalõiguste kaitse (DRM)
    Kirjastus on väljastanud selle e-raamatu krüpteeritud kujul, mis tähendab, et selle lugemiseks peate installeerima spetsiaalse tarkvara. Samuti peate looma endale  Adobe ID Rohkem infot siin. E-raamatut saab lugeda 1 kasutaja ning alla laadida kuni 6'de seadmesse (kõik autoriseeritud sama Adobe ID-ga).

    Vajalik tarkvara
    Mobiilsetes seadmetes (telefon või tahvelarvuti) lugemiseks peate installeerima selle tasuta rakenduse: PocketBook Reader (iOS / Android)

    PC või Mac seadmes lugemiseks peate installima Adobe Digital Editionsi (Seeon tasuta rakendus spetsiaalselt e-raamatute lugemiseks. Seda ei tohi segamini ajada Adober Reader'iga, mis tõenäoliselt on juba teie arvutisse installeeritud )

    Seda e-raamatut ei saa lugeda Amazon Kindle's. 

STEM is a discipline of importance to a growing number of microscopists. This book is essential reading for undergraduates, postgraduates and researchers requiring an up-to-date and comprehensive introduction to this rapidly growing, state of the art technique.

Arvustused

"This handbook, like the previously-published handbooks in the series, is a good one. It is informative and provides undergraduates, post-graduates and researchers requiring an up-to-date and comprehensive introduction into the state-of-the-art microscope

Why STEM? - STEM versus TEM; STEM Optics; The specimen; Imaging in the STEM; Diffraction in the STEM; Microanalysis in the STEM; Mapping in the STEM; Limits to STEM and advanced STEM; Glossary; Further reading; Index
Dr Robert Keyse
Lisainfo e-raamatute kohta Lisainfo e-raamatute kohta
Püsilink: https://www.kriso.ee/db/97813514366016e.html
Märksõnad: