Muutke küpsiste eelistusi

E-raamat: Similarity-Based Pattern Recognition: First International Workshop, SIMBAD 2011, Venice, Italy, September 28-30, 2011, Proceedings

Edited by , Edited by
  • Formaat: PDF+DRM
  • Sari: Lecture Notes in Computer Science 7005
  • Ilmumisaeg: 25-Sep-2011
  • Kirjastus: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K
  • Keel: eng
  • ISBN-13: 9783642244711
  • Formaat - PDF+DRM
  • Hind: 55,56 €*
  • * hind on lõplik, st. muud allahindlused enam ei rakendu
  • Lisa ostukorvi
  • Lisa soovinimekirja
  • See e-raamat on mõeldud ainult isiklikuks kasutamiseks. E-raamatuid ei saa tagastada.
  • Formaat: PDF+DRM
  • Sari: Lecture Notes in Computer Science 7005
  • Ilmumisaeg: 25-Sep-2011
  • Kirjastus: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K
  • Keel: eng
  • ISBN-13: 9783642244711

DRM piirangud

  • Kopeerimine (copy/paste):

    ei ole lubatud

  • Printimine:

    ei ole lubatud

  • Kasutamine:

    Digitaalõiguste kaitse (DRM)
    Kirjastus on väljastanud selle e-raamatu krüpteeritud kujul, mis tähendab, et selle lugemiseks peate installeerima spetsiaalse tarkvara. Samuti peate looma endale  Adobe ID Rohkem infot siin. E-raamatut saab lugeda 1 kasutaja ning alla laadida kuni 6'de seadmesse (kõik autoriseeritud sama Adobe ID-ga).

    Vajalik tarkvara
    Mobiilsetes seadmetes (telefon või tahvelarvuti) lugemiseks peate installeerima selle tasuta rakenduse: PocketBook Reader (iOS / Android)

    PC või Mac seadmes lugemiseks peate installima Adobe Digital Editionsi (Seeon tasuta rakendus spetsiaalselt e-raamatute lugemiseks. Seda ei tohi segamini ajada Adober Reader'iga, mis tõenäoliselt on juba teie arvutisse installeeritud )

    Seda e-raamatut ei saa lugeda Amazon Kindle's. 

This book constitutes the proceedings of the First International Workshop on Similarity Based Pattern Recognition, SIMBAD 2011, held in Venice, Italy, in September 2011. The 16 full papers and 7 poster papers presented were carefully reviewed and selected from 35 submissions. The contributions are organized in topical sections on dissimilarity characterization and analysis; generative models of similarity data; graph-based and relational models; clustering and dissimilarity data; applications; spectral methods and embedding.