Muutke küpsiste eelistusi

E-raamat: Circuit Design for Reliability

Edited by , Edited by , Edited by
  • Formaat: PDF+DRM
  • Ilmumisaeg: 08-Nov-2014
  • Kirjastus: Springer-Verlag New York Inc.
  • Keel: eng
  • ISBN-13: 9781461440789
  • Formaat - PDF+DRM
  • Hind: 110,53 €*
  • * hind on lõplik, st. muud allahindlused enam ei rakendu
  • Lisa ostukorvi
  • Lisa soovinimekirja
  • See e-raamat on mõeldud ainult isiklikuks kasutamiseks. E-raamatuid ei saa tagastada.
  • Formaat: PDF+DRM
  • Ilmumisaeg: 08-Nov-2014
  • Kirjastus: Springer-Verlag New York Inc.
  • Keel: eng
  • ISBN-13: 9781461440789

DRM piirangud

  • Kopeerimine (copy/paste):

    ei ole lubatud

  • Printimine:

    ei ole lubatud

  • Kasutamine:

    Digitaalõiguste kaitse (DRM)
    Kirjastus on väljastanud selle e-raamatu krüpteeritud kujul, mis tähendab, et selle lugemiseks peate installeerima spetsiaalse tarkvara. Samuti peate looma endale  Adobe ID Rohkem infot siin. E-raamatut saab lugeda 1 kasutaja ning alla laadida kuni 6'de seadmesse (kõik autoriseeritud sama Adobe ID-ga).

    Vajalik tarkvara
    Mobiilsetes seadmetes (telefon või tahvelarvuti) lugemiseks peate installeerima selle tasuta rakenduse: PocketBook Reader (iOS / Android)

    PC või Mac seadmes lugemiseks peate installima Adobe Digital Editionsi (Seeon tasuta rakendus spetsiaalselt e-raamatute lugemiseks. Seda ei tohi segamini ajada Adober Reader'iga, mis tõenäoliselt on juba teie arvutisse installeeritud )

    Seda e-raamatut ei saa lugeda Amazon Kindle's. 

Describing practical modeling and characterization techniques for designing reliable electrical circuits, this volume includes a thorough presentation of robust designs for major VLSI units. Its first-principle simulations aid physical understanding.



This book presents physical understanding, modeling and simulation, on-chip characterization, layout solutions, and design techniques that are effective to enhance the reliability of various circuit units. The authors provide readers with techniques for state of the art and future technologies, ranging from technology modeling, fault detection and analysis, circuit hardening, and reliability management.
1 Introduction
1(4)
Ricardo Reis
Yu Cao
Gilson Wirth
2 Recent Trends in Bias Temperature Instability
5(16)
B. Kaczer
T. Grasser
J. Franco
M. Toledano-Luque
J. Roussel
M. Cho
E. Simoen
G. Groeseneken
3 Charge Trapping Phenomena in MOSFETS: From Noise to Bias Temperature Instability
21(26)
Gilson Wirth
Roberto da Silva
4 Atomistic Simulations on Reliability
47(22)
Dragica Vasileska
Nabil Ashraf
5 On-Chip Characterization of Statistical Device Degradation
69(24)
Takashi Sato
Hiromitsu Awano
6 Compact Modeling of BTI for Circuit Reliability Analysis
93(28)
Ketul B. Sutaria
Jyothi B. Velamala
Athul Ramkumar
Yu Cao
7 Circuit Resilience Roadmap
121(24)
Veit B. Kleeberger
Christian Weis
Ulf Schlichtmann
Norbert When
8 Layout Aware Electromigration Analysis of Power/Ground Networks
145(30)
Di-an Li
Malgorzata Marek-Sadowska
Sani R. Nassif
9 Power-Gating for Leakage Control and Beyond
175(32)
Andrea Calimera
Alberto Macii
Enrico Macii
Massimo Poncino
10 Soft Error Rate and Fault Tolerance Techniques for FPGAs
207(16)
Fernanda Kastensmidt
Ricardo Reis
11 Low Power Robust FinFET-Based SRAM Design in Scaled Technologies
223(32)
Sumeet Kumar Gupta
Kaushik Roy
12 Variability-Aware Clock Design
255
Matthew R. Guthaus
Gustavo Wilke